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N/A

Zappa, D., Borgoni, R., Radaelli, L., Tritto, V., LogVariance modeling of wafer surface, Poster, in Statistical Methods applied in microelectronics, (Itala, 13-13 June 2011), Vita e Pensiero, Milano 2011: 1-1 [http://hdl.handle.net/10807/12430]

LogVariance modeling of wafer surface

Zappa, Diego;Borgoni, Riccardo;
2011

Abstract

N/A
2011
Inglese
Statistical Methods applied in microelectronics
Statistical Methods applied in microelectronics
Itala
Poster
13-giu-2011
13-giu-2011
Zappa, D., Borgoni, R., Radaelli, L., Tritto, V., LogVariance modeling of wafer surface, Poster, in Statistical Methods applied in microelectronics, (Itala, 13-13 June 2011), Vita e Pensiero, Milano 2011: 1-1 [http://hdl.handle.net/10807/12430]
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