2022 IEEE International Workshop on Metrology for Extended Reality, Artificial Intelligence and Neural Engineering, MetroXRAINE 2022

Informazioni generali
	Titolo
	
				2022 IEEE International Workshop on Metrology for Extended Reality, Artificial Intelligence and Neural Engineering, MetroXRAINE 2022 - Proceedings	  	
				
	Cris ID
	
				journal100014	  	
				
	Codice ANCE
	
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	Nazione
	
	ISSN
	
	Lingua
	
	Tipo
	
	Editore
	
				IEEE	  	
				
	Anno di inizio
	
	Anno di fine
	
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