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Data di pubblicazione Titolo Autore(i) File
1-gen-2017 Selecting subgrids from a spatial monitoring network: Proposal and application in semiconductor manufactoring process Borgoni, Riccardo; Zappa, Diego
1-gen-2013 Response surface prediction from a spatial montoring process Borgoni, Riccardo; Radaelli, Luigi; Zappa, Diego
1-gen-2013 Optimal reduction of a spatial monitoring grid: Proposals and applications in process control Borgoni, Riccardo; Radaelli, Luigi; Tritto, Valeria; Zappa, Diego
1-gen-2013 Statistics for microelectronics Borgoni, Riccardo; Deldossi, Laura; Radaelli, Luigi; Zappa, Diego
1-gen-2011 LogVariance modeling of wafer surface Zappa, Diego; Borgoni, Riccardo; Radaelli, Luigi; Tritto, Valeria
1-gen-2010 Optimal reduction of a monitoring grid for SiO2 deposition surface over a wafer for semiconductor devices Zappa, Diego; Borgoni, Riccardo; Radaelli, Luigi; Tritto, Valeria
1-gen-2005 Risk of Congenital Malformations and Enviromental Pollution in Lombardy Mura, Fabrizio; Rosina, Alessandro; Micheli, Giuseppe Annibale; Rivellini, Giulia; Borgoni, Riccardo
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